IBM-Forscher sorgen für schärfere Bilder in der Elektronenmikroskopie

Das Wachstum sehr dünner Schichten, wie etwa Graphen, kann zum Beispiel mitlaufend beobachtet und so gezielt erforscht und kontrolliert werden, wie IBM in einer Mitteilung schreibt.

LEEM gewinnt an Bedeutung 
«Das LEEM, ein relativer Neuling in der Mikroskopie, gewinnt in der industriellen und universitären Forschung mehr und mehr an Bedeutung. In einem herkömmlichen Elektronenmikroskop werden die Elektronen auf sehr hohe Energielevel beschleunigt, um die Probe zu bestrahlen. Das besondere am LEEM ist, dass es Elektronen mit geringer Energie nutzt. Diese langsamen Elektronen sind sehr empfindlich gegenüber feinsten Strukturveränderungen von Oberflächen», erklärt Ruud Tromp vom IBM T.J.Watson Research Center und Professor an der Universität Leiden.

Leistungsfähigkeit sigifikant gesteigert
Die abgelenkten Elektronen werden von magnetischen Elektronenlinsen detektiert und ergeben so ein Abbild der Oberfläche und dessen elektronischer Eigenschaften. Mit dem Medipix2, einem Hightech-CMOS-Detektor, der ursprünglich für den Nachweis von Röntgenstrahlen erfunden wurde, konnten die Forscher die Leistungsfähigkeit des LEEMs nun signifikant steigern.

Selbstanordnende Monolagen
Die Arbeit erfolgte im Rahmen des Escher-Projektes der Universität Leiden, das mit 2,3 Millionen Euro von der Niederländischen Organisation für Wissenschaftliche Forschung (NWO) unterstützt wird. Weitere Vorhaben des Escher-Projektes sind Experimente mit organischen Schichten, die nur aus einer einzigen Lage von Molekülen bestehen. Solche selbstanordnenden Monolagen sind für die molekulare Elektronik von grossem Interesse.